ENTERPRISE

STORY

COMPANY INTRODUCTION

始于卓越、立于行动、可靠服务、质量报国

杭州三海电子科技股份有限公司

杭州三海电子科技股份有限公司（以下简称“三海科技”）创始于2002年，是一家专业从事可靠性检测设备研发生产的国家级高新技术企业，并于2023年入选国家工信部第五批专精特新“小巨人”名单。

三海科技一直专注于元器件老炼检测系统的研发，始终引领国内元器件老炼检测系统的发展潮流，二十年来已经为全国300多家单位提供了数百个品种的相关设备，并以元器件可靠性检测技术为基础，横向衍生出诸如射频器件三温测试系统的元器件测试设备，纵向派生出电子部件可靠性检测系统、机电产品可靠性检测系统，储能单元可靠性检测系统等诸多部件级系统级可靠性检测设备，二者与元器件老炼检测系统共同构筑起可靠性之桥，保障工业发展的蓬勃腾飞。

三海科技拥有一支百余人的产品研发团队，掌握产品的核心技术，拥有完全的自主知识产权，能够根据用户的需求快速准确地提供完整的可靠性检测设备解决方案以及生产配套的定制型产品。三海科技始终坚持“质量第一、用户至上”的经营理念，在严酷的竞争环境下，仍然一如既往地坚持硬件物料优选，按照质量管理体系对每一道工序实施严格的工艺管理，保证产品的可靠性、维修性、测试性、保障性和安全性，赢得了用户的一致赞誉。

三海科技始终秉承“始于卓越、立于行动、可靠服务、质量报国”的发展愿景，不断持续提升产品的技术性能和品质，助力我国军民用装备可靠性水平的提升，助力我国可靠性事业的全面腾飞。

产品介绍

PART ONE

Evo-P系列

封装级老化检测系统

灵活的高产出可靠性验证与测试总体解决方案。

支持DIP、QFN、DFN、TO、TOLL等多种封装类型的定制开发。

支持高功率(>2000V)和高温加热(~200℃)能力。

最大支持同时9.8Kpcs产品同时老化(数量依据封装类型定义)。

支持增强型(E-Mode)、耗尽型(D-Mode)和共源共栅(Cascode)型器件。

支持MES，YMS及EAP软件访问系统，并支援SECS/GEM半导体通信协议，支持产品漏电流监控，并实时数据记录。

系统具有自检测(诊断和校准)能力。

支持图形用户界面和产品MAP图输出(支持CSV/TXT等相关格式)。

PART TWO

ES-ICDH01

超大规模集成电路老化系统

适用于支持MCU、SOC、ARM、FPGA、存储器、逻辑器件等集成电路器件的高温工作寿命试验(HTOL)，使器件进行真正意义上老化边测试。

试验封装：支持SOP、DIP、DFN、QFP、LCC、

BGA等各种封装规格...

试验能力：全双向 I/0 通道，128~192路/槽位(可选)；100MHz(100MHz内按39.0625pS分辨率任意可调)；Pattern深度16~32M行(可选)；支持RL、RH、NR、SBL、SBH、SBC等信号格式输出;支持none、repeat、loop、keepalive、halt向量指令，VIL、VIH、VOL、VOH：0~5V可程控

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PART THREE

CS-IMSNPC

功率循环测试系统

适用于各种封装类型的功率模块的功率循环试验、可进行秒级(s)/分钟级(min)的功率循环试验。

符合标准：IEC60749-34、AQG-324..

试验模式：电性考核、例行品质、器件鉴定...

试验对象：各种封装类型Diode、Si-MOSFET、Si-IGBT、SiC-MOSFET等功率模块...

试验场合：军工电子、汽车电子、消费电子,半导体器件设计和封测企业…

PART FOUR

ES-PDSHGB

高温栅偏老炼检测系统(HTGB)

适用于各种封装形式的半导体分立器件的高温栅偏试验和老炼筛选。

符合标准：GJB128、MIL-STD-750...

试验模式：电性考核、例行品质、器件鉴定…

试验对象：IGBT、场效应管...

试验场合：军工电子、汽车电子、消费电子半导体器件设计和封测企业…

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PART FIVE

ES-PDSMRB

高温高湿反偏老炼检测系统(H3TRB)

适用于TO220、TO247、TO3P、TO252、T0263等封装型的各种功率半导体器件进行高温高湿反偏试验。

符合标准：JEDEC、MIL-STD-750、GJB128...

试验模式：电性考核、例行品质、器件鉴定..

试验对象：二极管、三极管、MOSFET、IGBT、SiC...

试验场合：军工电子、汽车电子、消费电子、半导体器件设计和封测企业。

PART SIX

ES-PDSHRB

高温反偏老炼检测系统(HTRB)

适用于各种封装形式的半导体分立器件的高温栅偏试验和老炼筛选。

符合标准：GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108...

试验模式：电性考核、例行品质、器件鉴定…

试验对象：IGBT、场效应管..

试验场合：军工电子、汽车电子、消费电子半导体器件设计和封测企业。

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PART SEVEN

CS-PDSNPC

间歇工作寿命老炼检测系统(IOL)

适用于各种封装(TO-254、TO-257、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等)及类型单管(MOSFET、IGBT、Si基/Sic Diode等)的功率半导体电子元器件功率循环/间歇工作寿命试验和稳态功率老炼试验。

符合标准：MIL-STD-750、GJB128、JESD22-A122、AEC-O101...

试验模式：电性考核、例行品质、器件鉴定

试验对象：二极管、三极管、MOS管、IGBT管

试验场合：军工电子、汽车电子、消费电子、半导体器件设计和封测企业...

PART EIGHT

ES-PDSMHA

高加速应力试验系统(BHAST)

适用于三极管、MOS、IGBT和可控硅等非气密性半导体器件的高加速应力试验（HAST/BHAST）、不加电的加速应力试验（UHAST）和高压蒸煮试验（PCT/AC）。

符合标准：JESD22-A110，JESD22-A118，JESD22-A101...

试验模式：电性考核、例行品质、器件鉴定...

试验对象：二极管、三极管、效应管、可控硅、三端稳压集成器、光电耦合器、电阻器...

试验场合：军工电子、汽车电子、消费电子、半导体器件设计和封测企业...

联系方式

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总公司 | 杭州三海电子科技股份有限公司

电话 | 0571-89081127

地址 | 杭州市余杭区闲兴路25号13幢

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陕西公司 | 陕西三海电子科技有限公司

电话 | 029-89250869

地址 | 西安市高新区西太路526号信息产业园二期4号楼B2-01

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金华淖悦 | 金华市淖悦精密科技有限公司

电话 | 0579-82690081

地址 | 金华市婺城区夹溪路1678号1号厂房

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