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半导体衬底材料发展进程
旺材芯片 | 2024-09-18 22:40:55    阅读:199   发布文章

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半导体主要制造材料及封装材料

半导体材料行业是半导体产业链中细分领域最多的产业链环节,根据SEMI的分类与数据,晶圆制造材料包括硅片、光掩膜、光刻胶及辅助材料、工艺化学品、电子特气、抛光液和抛光垫、靶材及其他材料,封装材料包括引线框架、封装基板、陶瓷基板、键合丝、包封材料、芯片粘结材料及其他封装材料,每一大类材料又包括几十种甚至上百种具体产品,细分子行业多达上百个。

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图1:半导体主要制造材料及封装材料

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半导体材料的成本拆分

根据SEMI的数据,2021年半导体前道制造材料的成本占比为62.8%,后道封装材料成本占比为37.2%。进一步对前道制造材料成本以及后道封装材料成本进行拆分,其中成本占比最大的为硅片/其他衬底成本(20.72%);其余材料成本占比从大至小排序分别为封装基板(14.88%)、湿电子化学品(8.79%)、光刻胶及配套材料(8.29%)、掩膜版(8.10%)、键合丝(5.58%)、引线框架(5.58%)、封装树脂(4.84%)、CMP材料(4.46%)、陶瓷封装(4.09%)、电子特气(2.51%)、靶材(1.82%)、芯片粘结材料(1.49%)。

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图2:2021年半导体材料成本拆分


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半导体全工艺流程涉及金属环节

硅片及其他衬底材料是半导体芯片的关键底层材料。从芯片的制造流程来看,需要的步骤包括生产晶圆、氧化、光刻、刻蚀、薄膜沉积、互连、测试、封装等。以硅片半导体为例,自然界中硅砂很多,但硅砂中包含的杂质太多,需要进行提炼后使用。将提炼后得到的高纯硅熔化成液体,再利用提拉法得到原子排列整齐的晶锭,再将其切割成一定厚度的薄片,切割后获得的薄片便是未经加工的“原料晶圆”。

第二步即为氧化过程,其作用是在晶圆表面形成保护膜,保护晶圆不受化学杂质影响、避免漏电电流进入电路、预防离子植入过程中的扩散以及防止晶圆在刻蚀时滑脱;第三步为光刻,即使用光线将电路图案“印刷”到晶圆上。

第四步为刻蚀,在晶圆上完成电路图的光刻后,用该工艺来去除任何多余的氧化膜且只留下半导体电路图;在刻蚀的同时,也需要进行第五步薄膜沉积/离子注入:通过不断沉积薄膜以及刻蚀去除掉器件中多余的部分,同时添加一些材料将不同的器件分离开来,每个晶体管或存储单元就是在这个过程中构建起来的;在上述过程完成后,需要将器件互连并进行测试,测试无误后才能进行最后的封装,得到最后的半导体芯片。

由于半导体(集成电路)制造的过程十分复杂,涉及的金属材料品种包罗万象,本节中我们以SEMI对半导体材料的分类为脉络,逐个分析涉及金属的半导体材料,主要包括衬底及外延、掩膜版、电子特气、靶材、其他材料(高K材料及电镀液)、键合丝、引线框架、焊料,下文将分别对这些半导体材料涉及的金属做进一步阐述。

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图3:半导体全工艺流程涉及金属环节介绍

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半导体衬底材料更新迭代


从半导体的发展历史看,半导体衬底材料经历了三代的更新迭代,并正在向着第四代材料稳步迈进。其中第一代半导体材料以锗(Ge)和硅(Si)为主,其中锗目前半导体应用较少,而硅仍是目前最主流的半导体衬底材料;第二代半导体材料以砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、锑化铟(InSb)和硫化镉(CdS)等I-V族化合物材料为主,由于化合物半导体的宽禁带优势以及下游应用领域的进一步发展,砷化镓与磷化铟未来的使用量将提升;第三代半导体材料则是以碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)、氧化锌(ZnO)和氮化铝(AIN)等为代表的宽禁带(禁带宽度大于2.2eV)半导体材料,其中碳化硅与氮化镓备受关注;而第四代半导体材料主要包括氮化铝(AlN)、金刚石、氧化镓(Ga2O3),它们被称为超宽禁带半导体材料,目前尚处于起步阶段。


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图4:半导体衬底材料更新迭代

从四代半导体的性能参数对比看,第一代半导体表现出较低的禁带宽度、介电常数以及击穿电场,其优势在于低廉的成本以及成熟的工艺,因此更加适应低压、低频、低温的工况。

第二代半导体材料具有发光效率高、电子迁移率高、适于在较高温度和其它条件恶劣的环境中工作等特点,同时工艺较第三代半导体材料更为成熟,主要被用来制作发光电子、高频、高速以及大功率器件,在制作高性能微波、毫米波器件方面是绝佳的材料。第三代半导体材料随着智能时代的来临而备受青睐,禁带宽度明显增加,击穿电压较高,抗辐射性强,电子饱和速率、热导率都很高。基于上述特性第三代半导体材料不仅能够在高压、高频的条件下稳定运行,还可在较高的温度环境下保持良好的运行状态,并且电能消耗更少,运行效率更高。第四代半导体材料显示出最大的优势便是其更宽的禁带宽度,因此其更适合应用于小尺寸、高功率密度的半导体器件。半导体代际区分的关键指标为“巴利加优值”,它以 IEEE 荣誉勋章获得者B.贾扬特•巴利加(B.Jayant Baliga)的名字命名。本质上,它表示的是器件的输出在高电压下对输入信号细节的再现程度,优值越高,再现程度越完整。我们假设第一代半导体硅基材料的优值为 1,第二代半导体材料优值需要达到其10 倍以上,第三代半导体材料优值需要达到其 100 倍以上,第四代半导体材料优值需要达到其 1000 倍以上。图片

表一:四代半导体参数对比

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表二:四代半导体材料应用领域

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图4:各种半导体衬底材料适用功率范围及频率范围

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适用功率范围及频率范围

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图5:各种半导体衬底材料适用功率范围及频率范围

目前主要使用的半导体衬底材料所适用的功率范围及频率范围,可以较为清晰地比较各种半导体衬底材料的优劣势。虽然下图对各种半导体衬底材料 的适用范围进行了区分,但是从目前的使用情况来看,仍未出现明显的替代现象,目前硅仍然是半导体器件最重要的材料。

来源: New Material+New Power


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